偏光显微熔点测定仪 型号：XPN203E
一、仪器的用途：
XPN-203型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
二、仪器特点：
偏光显微熔点测定仪XPN-203，本套系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前领先技术，多年研究开发的结果，在国内享有绝对领先.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
三、技术参数
| 名称 | 规格 |
| 总放大倍数： | 40X---630X |
| 无应力消色差物镜 | 4X/0.1 |
| 10X/0.25 | |
| 25X/0.40 | |
| 40X/0.65弹簧 | |
| 63X/0.85弹簧 | |
| 目镜 | 10X十字目镜 |
| 10X分划目镜 | |
| 试片 | 石膏1λ试片 |
| 云母1/4λ试片 | |
| 石英楔子试片 | |
| 测微尺 | 0.01mm |
| 滤色片 | 蓝色 |
| 移动尺 | 移动范围30×40mm |
| 镜筒 | 三目观察 |
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热台组成 |
性能 |
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显微精密控温仪 |
在 20倍物镜下工作温度可达到最高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定， 30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数 |
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显微加热平台 |
可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1 |
注意：熔点测定（温度超过100度时，25X的物镜工作距离
太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜）
四、系统简介
偏光显微镜系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察偏光图像，从而对偏光图谱进行分析等对图片进行输出、打印。
五、系统组成
偏光显微镜熔点测定仪(XPN-203E): 1.偏光显微镜 2.适配镜 3.摄像器(CCD) 4.A/D(图像采集) 5.热台
偏光显微镜熔点测定仪(XPN-203Z):1、偏光显微镜 2、适配镜 3、数码相机（NIKON）4.热台
六、总放大参考倍数
XPN-203E型： 100--1600倍 （17寸显示器为例）
XPN-203Z型： 100--1500倍 (尼康数码相机 4500型)
四、选购件
1、150万像素成像器 2、偏光显微镜分析软件 3、长工作距离物镜：25X，40X，60X
